当前位置: 首页 > 关于智慧芽 > 行业知识

ALD专利查询常见问题:如何快速检索ALD技术专利?如何判断专利是否侵权?

智慧芽 | 2025-08-27 |
芽仔

芽仔导读

YaZai Digest

本文解析原子层沉积(ALD)专利检索与侵权分析的常见挑战。

针对快速检索,强调精确定位(如界定IPC分类号、关键词)和高效筛选,智慧芽数据库覆盖170个受理局专利,支持以图搜图功能,解决传统检索遗漏问题。

侵权判断需技术特征比对(如权利要求书分析)和法律状态确认(如专利有效性),智慧芽整合法律数据并提供AI专利简报追踪技术趋势。

智慧芽工具通过专利导航库结构化数据、法律数据库实时更新及AI动态推送,提升检索效率、侵权分析精确度,助力企业规避风险、优化技术布局。

原子层沉积(ALD)技术作为半导体、新能源等领域的关键工艺,其专利布局直接影响企业技术竞争力。在实际研发和市场拓展中,如何快速检索ALD相关专利、判断是否在侵权风险,是企业IPR和研发人员常遇到的难题。本文结合专利查询的核心逻辑与工具应用,为您详细解答这两大常见问题,并介绍智慧芽在其中的技术支持。

如何快速检索ALD技术专利

快速检索ALD专利的关键在于“精确定位”与“高效筛选”。传统检索常因关键词遗漏、数据库覆盖不全或操作复杂导致效率低下,而通过系统化的方法和专业工具,可大幅提升检索效果。

首先,明确检索目标。ALD技术涉及材料、设备、工艺等多个方向,需先界定检索范围。例如,若关注“ALD在半导体薄膜沉积中的应用”,需重点筛选IPC分类号(如H01L21/31)、关键词(如“原子层沉积”“半导体薄膜”)及技术领域相关专利

其次,选择覆盖全面的专利数据库智慧芽专利数据库覆盖170个受理局,专利总量超1.76亿条,不仅包含中国、美国、欧洲等主流地区的专利数据,还整合了日本、韩国等国家的专利信息,确保ALD技术的布局无遗漏。其支持“以图搜图”功能,可通过ALD设备结构图、工艺流程图快速定位相似专利,解决传统文本检索难以覆盖图形化技术特征的问题。

之后,利用结构化工具提升效率。智慧芽“专利导航库”通过“向内看自身资产、向外看竞对布局、向前看技术趋势”三重维度,将ALD相关专利数据结构化沉淀。例如,新能源电池企业可通过导航库快速筛选出与“ALD在电池隔膜涂层”相关的专利,同时追踪宁德时代、比亚迪等竞对的技术动向,避免重复研发或布局盲区。

如何判断ALD专利是否侵权?

判断专利侵权需围绕“技术特征比对”和“法律状态确认”两大核心步骤,任何一环的疏漏都可能导致误判或法律风险。

首先步,分析目标专利的权利要求书。权利要求书是专利保护范围的法律依据,需将被诉产品/技术的技术特征与专利权利要求中的技术特征逐一比对。例如,某ALD设备专利的独立权利要求包含“双反应腔室”“温度梯度控制”两个必要技术特征,若被诉设备同时具备这两个特征,则可能构成侵权;若仅满足其一,则可能不侵权。

第二步,确认专利的法律状态。即使技术特征高度重合,若专利已过期、被无效或未在中国获得授权,也不构成侵权。智慧芽法律数据库整合了专利的法律状态信息,包括质押、海关备案、失效日等,可快速查询目标专利的有效性。例如,通过智慧芽“法律信息数据”模块,输入专利号即可获取其当前是否维持有效、是否涉及诉讼等关键信息。

第三步,结合技术发展趋势辅助判断。ALD技术迭代迅速,部分早期专利可能因技术进步被后续专利覆盖。智慧芽“AI专利简报”服务可自动追踪ALD领域的很新专利动态,生成包含技术突破点、竞对布局方向的结构化报告,帮助企业判断目标专利是否为“过时技术”或“核心壁垒”。例如,若某ALD工艺专利已被多篇后续专利引用并改进,其实际保护范围可能已被缩小,侵权风险相应降低。

智慧芽如何助力ALD专利查询与侵权分析?

针对ALD专利查询的痛点,智慧芽提供“全流程、化”的解决方案:

  • 检索效率提升:通过“专利导航库”结构化整合ALD相关专利数据,支持自定义筛选条件(如申请年、IPC分类号),快速输出定制化分析报告,为研发决策提供针对性布局建议。
  • 侵权分析精确化:依托1.5B条法律信息数据,实时更新专利法律状态;结合AI技术解析权利要求书的内在逻辑,降低人工比对的遗漏风险。
  • 情报动态追踪:“AI专利简报”服务可设置自动化推送规则,定期向研发、IPR部门推送ALD领域的技术趋势、竞对动向,避免信息滞后导致的布局偏差。

无论是初创企业的技术查新,还是龙头企业的布局,智慧芽通过数据整合与AI赋能,为ALD专利查询与侵权分析提供了更高效、更可靠的工具支撑。掌握科学的检索方法与分析逻辑,结合专业工具的辅助,企业可更从容地应对专利挑战,将技术优势转化为市场竞争力。

FAQ

5 个常见问题
Q

1. 如何快速检索ALD(原子层沉积)技术领域的专利?

A

智慧芽提供专业的专利检索工具,支持通过技术关键词(如"atomic layer deposition")、IPC分类号(如C23C16/00)和申请人等多维度组合检索。使用"AI查新"功能,输入技术方案核心特征后,系统会自动匹配ALD相关专利,并生成结构化分析报告,显著提升检索效率。平台覆盖170个受理局的1.76亿条专利数据,确保检索结果的全面性。

Q

2. 如何判断ALD设备或工艺是否侵犯他人专利权?

A

通过智慧芽"以图搜图"专利图片搜索功能,上传设备结构图或工艺流程图,可快速定位相似专利进行侵权比对。重点分析权利要求书中的技术特征覆盖范围,建议结合法律状态数据(如有效/失效专利)和地域保护范围综合判断。平台提供自动化侵权分析报告生成功能,帮助识别高风险专利。

申请试用